Kiểm tra tụ điện nhỏ (Dưới 10pF): Vì điện dung của tụ điện cố định dưới 10pF là cực thấp nên việc sử dụng đồng hồ vạn năng để đo chỉ cho phép đánh giá định tính-cụ thể là kiểm tra rò rỉ, đoản mạch bên trong hoặc sự cố điện môi. Để thực hiện kiểm tra này, hãy chọn phạm vi R×10k trên đồng hồ vạn năng; kết nối hai đầu dò thử nghiệm với hai dây dẫn của tụ điện (theo một trong hai thứ tự). Giá trị điện trở đo được phải là vô hạn. Nếu phát hiện một giá trị điện trở hữu hạn (được biểu thị bằng con trỏ lệch sang phải), điều đó có nghĩa là tụ điện bị hỏng do rò rỉ hoặc đã bị đánh thủng bên trong.
Kiểm tra tụ điện cố định (10pF đến 0,01μF): Tình trạng của các tụ điện này được xác định bằng cách quan sát xem có xảy ra hiện tượng sạc hay không. Đối với thử nghiệm này, hãy đặt đồng hồ vạn năng ở phạm vi R×1k. Phương pháp này sử dụng cấu hình bóng bán dẫn phức hợp; hai bóng bán dẫn được sử dụng, mỗi bóng bán dẫn phải có mức tăng dòng điện (giá trị) từ 100 trở lên và có dòng điện rò rỉ thấp. Các bóng bán dẫn silicon-chẳng hạn như mô hình 3DG6{10}}phù hợp để tạo ra cặp ghép này. Đầu dò màu đỏ và đen của đồng hồ vạn năng được kết nối tương ứng với bộ phát (e) và bộ thu (c) của bóng bán dẫn phức hợp. Nhờ hiệu ứng khuếch đại của bóng bán dẫn hỗn hợp, quá trình sạc và xả của tụ điện được thử nghiệm được khuếch đại, dẫn đến độ lệch lớn hơn của con trỏ vạn năng và giúp quá trình quan sát dễ dàng hơn nhiều.
Lưu ý quan trọng: Trong quá trình kiểm tra-đặc biệt khi đo các tụ điện có điện dung nhỏ hơn-cần phải đảo ngược nhiều lần các kết nối của các dây dẫn của tụ điện so với các điểm A và B để quan sát rõ ràng độ lệch của con trỏ của đồng hồ vạn năng. Đối với các tụ điện cố định có điện dung từ 0,01μF trở lên, phạm vi R×10k của đồng hồ vạn năng có thể được sử dụng trực tiếp để kiểm tra sự hiện diện của quá trình sạc cũng như đoản mạch hoặc rò rỉ bên trong. Hơn nữa, bằng cách quan sát độ lệch của con trỏ sang bên phải, người ta có thể ước tính giá trị điện dung gần đúng của tụ điện.